在设计AD转换的电路中，除了分辨率和精度外，我们遇到的最多的最多的问题，往往都和AD的输入阻抗和采样电容有很大的关系。无论何种类型的AD，进行模数转换都有两个阶段：采样阶段和转换阶段。
采样：就是采取样本，我们一般用这个样本代替某个时间段的真实值;
转换：就是将一个模拟信号转化为一个可以量化的数字值，这个数字值与真实值成一定的关系。
AD中有专门的采样电路，如下图所示，
AD采样电路
在一个采样电路中，最重要的有三个参数：
采样时间：即采样开始时，S1闭合，采样结束时，S1打开，这中间的时间就是采样时间，在许多AD中，这个时间是可以设置的;采样时间其实也是对内部采样电容的充电时间;
输入电阻：即图中的Rsl，这个电阻是起到对采样电容充电电流限制的作用，在stm32中，这个输入电阻大概为4.7K，而在一些片外AD中，它们内部输入前端均有电压跟随，可以认为AD的输入电阻为无穷大;
采样电容：采样时，就是对些电容充电，采样完后后，可以认为此电容的电压就是外部输入的电压。
由以上可知，要想采样电容完全的反应采样时的外部电压，就要求在采样期间，有足够的充电，以保证外部电压等于采样电容的电压，可以采取的措施有：
增加采样时间;
减少输入阻抗;对于方案1.比较容易实施，但对于方案2.我们可以采取的措施有：减小前端输入电阻，即Rin的值;增大前端电阻，即Cin的值;增加电压跟随，这样前端输入电阻为0;
对于一些对AD速度有要求的系统设计中，对于AD前端的设计，更是要特别注意，很多时候的AD采集值不准，就是因为采样导致的，通过精细的设置采样时间，输入阻抗，可以解决此类问题。
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